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型號:EDX1800
型號:GCMS6800
型號:GCMS6800
型號:LC-310
型號:GCMS6800
型號:EDX1800B
型號:EXPLORER3000
型號:Thick800A
型號:Thick 800A
型號:Explorer
型號:Thick 800A
型號:EDX1800B
型號:thick800a
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Careful service江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業。旗下擁有蘇州天瑞環境科技有限公司、北京邦鑫偉業技術開發有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環境科技(仙桃)有限公司五家全資子公司和江蘇國測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限公司兩家控股子公司。總部位于風景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司業從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。江蘇天瑞儀器股份有限公司業從事X射線熒光光譜儀,RoHS測試儀,RoHS2.0測試儀、ROHS十項測試儀,重金屬檢測儀,XRF,等離子體發射光譜儀,ICP,原子吸收分光光度計,AAS,液相色譜儀,LC,氣相色譜儀,GC,原子熒光光譜儀,AFS,光電直讀光譜儀,OES,EDXRF。本公司為廣大電子,電器,五金,塑膠,鞋材,鞋廠,皮具,箱包企業提供無鉛測試儀器,RoHs檢測儀,EN71~3檢測儀,玩具安全檢測...
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技術文章
2025
6-5ROHS 2.0檢測設備的多領域應用
在當今科技飛速發展的時代,電子產品如潮水般涌入人們的生活。然而,電子產品中含有的有害物質對環境和人類健康構成了潛在威脅。為了應對這一問題,歐盟推出了RoHS指令,而ROHS2.0檢測設備則成為了確保電子產品符合環保要求的關鍵守護者。RoHS指令全稱為限制使用某些有害物質指令,于2003年在歐盟頒布實施,旨在限制電子產品中鉛、汞、鎘、六價鉻等有害物質的含量。RoHS2.0指令是對原指令的修訂和更新,從2013年開始實施,覆蓋范圍更廣,除了上述四種物質外,還限制了苯并[a]芘等多...2025
6-3ROHS檢測儀:原理、應用與維護全解析
一、ROHS檢測儀的核心原理ROHS檢測儀(又稱X射線光譜儀)是檢測電子電氣產品中有害物質的關鍵設備,其核心技術基于X射線熒光光譜分析(XRF)。目前主流儀器分為兩類:波長色散型(WDXRF):通過分光晶體和測角儀精確分離不同波長的X射線,適合高精度檢測,但結構復雜。能量色散型(EDXRF):直接測量X射線能量強度,結構簡單、檢測速度快,適用于常規篩查。兩種類型均能精準檢測鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、六價鉻(Cr??)等ROHS指令限定的重金屬,以及塑膠中的溴化阻燃劑...2025
5-28TIC-680離子色譜儀測試塑膠粒子中的氟、氯、溴
隨著全球環保法規的日益嚴格,塑料制品中鹵素(如氟、氯、溴)含量的控制成為制造業和質檢領域的重要課題。鹵素化合物(如阻燃劑、增塑劑)在塑料加工中廣泛應用,但其殘留可能導致環境污染、人體健康風險(如致癌性)及電子設備腐蝕等問題。歐盟RoHS指令、國際電工委員會《IEC61249-2-21:2003印刷板材料和其他連接結構材料,第2-21部分:具有特定易燃性的銅包覆層夾層板》等法規均對鹵素含量提出明確限值,氯≤900ppm,溴≤900ppm,溴和氯的總和≤1500ppm;部分領域對...2025
5-22ROHS2.0快速熱裂解RoHS檢測儀
ROHS2.0快速熱裂解RoHS檢測儀產品說明、技術參數及配置OHS2.0快速熱裂解RoHS檢測儀主要應用UPY-90S快速熱裂解RoHS檢測儀(Py/TD-GC法)具有不需要化學前處理,無環評困擾,一鍵式操作,定制化的軟件服務,操作簡單快捷,為企業實現降本增效,是企業質量管控的有效手段之一。鄰苯快速篩查無需繁雜的樣品前處理過程,二十分鐘即可完成鄰苯二甲酸酯的篩查分析。無環評困擾樣品前處理無需化學試劑,零危廢生成、人機共存無敏環境,生態友好操作模式。一鍵式操作系統一鍵式操作,...2025
5-7提高精準度:五金端子膜厚儀的使用技巧解析
五金端子膜厚儀是一種常用于精密測量金屬表面涂層厚度的設備,廣泛應用于五金、電子等行業。其精準度直接影響到產品的質量和性能,因此,掌握正確的使用技巧對于確保測量結果的準確性至關重要。本文將為您解析如何提高五金端子膜厚儀的測量精準度。1、選擇合適的儀器型號不同型號的膜厚儀適用于不同類型的涂層和材料。在選擇膜厚儀時,應根據測量對象的材質、涂層類型和測量范圍來選定適合的儀器。例如,涂層較厚的金屬表面和薄涂層的非金屬表面,需要不同功能和性能的膜厚儀。選對儀器是提高測量精準度的第一步。2...2025
4-8X-ray膜厚儀在半導體制造中的精準測量
隨著半導體技術的不斷進步,對薄膜材料的精確控制和測量要求也越來越高。X-ray膜厚儀作為一種先進的非接觸式測量工具,在半導體制造中廣泛應用,尤其在薄膜厚度的精準測量方面,發揮著不可替代的作用。一、X-ray膜厚儀原理X-ray膜厚儀基于X射線的衍射原理,通過測量X射線與薄膜表面或薄膜與基底之間相互作用的變化來計算膜層的厚度。X射線照射到薄膜表面時,會發生散射和吸收。根據不同材料的性質,X射線的衍射和吸收程度會有所不同。膜厚儀通過探測這些衍射信號,結合已知的材料數據,計算出膜層...TEL:13802284651
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